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光学测试测量系统

  • 光学测试测量系统 (TMS) 允许对超低相位噪声 CW 激光源进行全自动测量。


    它能够快速测量激光相位噪声并将其 FWHM 线宽近似降低至 <3 Hz,无需复杂的设置。


    基于零差的系统在宽带测量方面具有独特之处,无需另一个低噪声参考激光源。


    OEwaves HI-Q OPNTS.png



    定义特征

    • 超低相位/频率噪声测量能力

    • 快速实时测量 

    • 瞬时和扩展 FWHM 线宽分析

    • 无需低噪声参考源

    • 简单的基于PC的操作

    • 3U x 19'' 机架系统

    • 可定制的配置、升级和选项









  • 常见规格


    单击链接下载手册:OTMS.pdf 

     频率噪声偏移10Hz100Hz1kHz1MHz
     标准本底噪声*250Hz/√Hz50Hz/√Hz10Hz/√Hz3Hz/√Hz
     超低本底噪声选项**50Hz/√Hz10Hz/√Hz2Hz/√Hz0.2Hz/√Hz
     洛伦兹线宽灵敏度

    <10Hz<10 µS(标准本底噪声)

    <0.5Hz<10 µS(超低本底噪声选项)

     FWHM 线宽估计范围

    标准本底噪声:1 kHz 至 10 MHz(<10 ms)

    超低本底噪声选项:3 Hz – 30 kHz (< 10 ms)

     动态范围60dB
     相位本底噪声-160 ± 2 dBc/Hz > 10 MHz
     光输入功率范围+5 至 +15 dBm (PM-FC/APC)
     偏移频率范围10 Hz – 1 MHz
     测量类型

    频率噪声/零差相位

    RIN 选项(本底噪声:-158 ± 2 dB/Hz > 1 MHz)

     数据存储和I/OHDD / USB 端口
     分辨率带宽0.1 Hz – 200 kHz
     工作温度范围15°C 至 35°C
     电源110 / 120 或 220 / 240 Vac50 / 60Hz
     尺寸3U x 19:机架安装

    * 需要 RIN 低于 -100 dBc/Hz @ 10Hz、-130 dBc/Hz @ 1 kHz 和 -140 dBc/Hz @ 1 MHz 的激光器 

    ** 需要 RIN 低于 -100 dBc/Hz @ 10Hz、-130 dBc/Hz @ 1 kHz 和 -150 dBc/Hz @ 1 MHz 的激光器


    频率噪声图



  • 配件和附加组件

    可根据要求提供以下配件和附加组件。


     选项
     规格
     低或高输入功率范围 -10 至 +20 dBm 范围内高达 15 dB
     可用波长范围

     620 – 650 / 740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1360 – 1460 / 1460 – 1530 / 1530 – 1565 / 1565 – 1625 / 

     1950 – 2150 / 2150 – 2200(nm)

     (请咨询工厂了解多波长范围选项和定制波长范围)

     扩展偏移频率范围 

     频率/相位噪声低至 1 Hz 或高达 100 MHz

     (有关更高频率的选项,请咨询工厂)

     RIN 测量 相对强度噪声;低至 1 Hz 或高达 100 MHz 高频 RIN 至 40GHz 选项(请参阅 OE4001 数据表)



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